对象
质量工程师，量检具管理和使用人员，检验和试验人员，IATF16949：2016内部审核员，直接负责准备PPAP的人员或APQP小组成员等。
目的
1、定义测量系统、理解测量系统变差及其来源； 2、确定测量系统分析的范围、资源、人员需求，制订分析计划； 3、掌握计量型测量系统的分析方法和判断准则； 4、掌握计数型测量系统的分析方法和判断准则； 5、掌握如何进行破坏性测量系统的分析方法； 6、通过测量系统分析，提高选用、维护和改进测量系统有效性的能力。
内容
第一章 测量系统概述
1、测量的定义
2、测量系统的定义
3、理想的测量系统
4、测量系统的变差来源（PISMOEA模型）
5、测量系统误差的影响（对产品检验、对过程控制）
6、测量系统分析的概念
第二章 测量系统的几个基本特性
1、测量系统误差（准确度和精确度）的概念
2、测量系统的几个基本特性（分辨力、偏倚、线性、稳定性、重复性、再现性）
3、测量不确定度的概念
第三章 测量系统的策划和测量系统分析计划
1、测量系统的策划（APQP、FMEA、测量计划、量具的配备、量具的设计、采购或制造、测量系统分析计划、测量系统分析）
2、IATF16949等标准对MSA的要求
第四章 计量型测量系统的分析方法和判断准则
1、偏倚的分析方法与判断准则
2、线性的分析方法与判断准则
3、稳定性的分析方法与判断准则
4、GRR的分析方法与判断准则（极差法、均值极差法、方差分析法）
练习：偏倚、线性、稳定性、GRR均值极差法
第五章 计数型测量系统的分析方法和判断准则
1、计数型测量系统的小样法简介
2、计数型测量系统的风险分析法（Kappa）
3、计数型测量系统的信号探测法
4、计数型测量系统的解析法
练习：计数型测量系统分析
第六章 破坏型测量系统的分析方法和判断准则
附表及附录
