1. 过程和过程控制 （10分钟）
2. 初识控制图（5分钟）
3. 控制图的基本原理 – 揭示SPC的本质（1小时）
l 随机变量
l 数据分布
l 正态分布
l 中心极限定理
l 常规控制图（休哈特控制图）的建立条件
l 受控与失控的统计学解释
l 普通原因与特殊原因
l 控制图为什么能够发现过程的失控
4. 计量型数据控制图（7小时15分钟）
l 概述
l 建立控制图的准备
Ø 获得管理层的支持，以便配置相应的资源
² 人员上的支持
² 数据采集和上传工具
² 反馈机制的建立
Ø 确定需要用控制图控制的特性
Ø 使不必要的变差最小化（已知的，明显的，可永久性纠正的，不必使用控制图来识别的变差）
Ø 确认测量系统的能力是足够的
l 分析阶段控制图
Ø 概述-本阶段的目的
Ø 控制图的建立的基本步骤（以Xbar-R均值-极差图为例）
Ø 基本步骤练习
Ø 如何合理地抽样
² 控制图对抽样的要求
² 从哪里抽样（不同的情况，包含多生产流的抽样）
² 子组容量
² 抽样频率
Ø 失控趋势判断及解释（如何判断有失控，各种失控模式的原因及相应的纠正措施，判断准则与平均运行长度ARL）
l 在线使用阶段控制图
Ø 在线监控、反馈、问题分析和解决
Ø 控制图的更新
² 抽样方案的改变
² 产品或过程的变更
² 过程改善后
l 其它计量型数据控制图
Ø Xbar-S均值-标准差图
Ø I-MR单值-移动极差图
Ø Z-MR控制图
l 控制图总结
Ø 控制图的类型和选用
Ø 控制图的常见误区
Ø 综合练习
5. 计量型数据过程能力分析（3小时）
l 概念与原理
l 过程能力分析的基本方法
l 不划分子组时的过程能力分析
l 如何衡量过程均值的偏移程度
l 设备能力指数Cmk
l 综合练习
6. 计数型数据控制图（1小时）
l 不合格品率控制图 – P图
Ø P图的概念和应用背景
Ø 理论基础（二项分布）
Ø 控制限
Ø P图的建立
² 子组容量
² 子组频率
² 失控判断准则
² 建立的步骤
Ø 过程能力
l 不合格品数控制图 - NP图
Ø 应用背景（注重与P图不同的适用情况）
Ø 与P图的区别
Ø 其余同P图
Ø NP图示例
l 单位缺陷数控制图 – u图
Ø 概念和应用背景
Ø 理论基础（泊松分布）
Ø 控制限
Ø u图的建立
Ø 过程能力
l 缺陷数控制图 – c图
Ø 概念和应用背景
Ø c图的建立
² 与u图相同的部分
² 与u图不同的部分
Ø 过程能力
l 计数型数据控制图的选用
l 综合练习
7. 控制图在持续改进中的应用（30分钟）
l 持续改进与统计过程控制介绍
l 如何用控制图展现改善的效果
